Pierwszy spektrometr masowy TOF (Time-of-Flight) przedstawiono w 1946 roku. Od tego czasu jego konstrukcja była wielokrotnie udoskonalana. Zalety spektrometrii TOF szybko stały się widoczne dzięki nieograniczonemu zakresowi masy widocznej w każdym spektrum oraz szybkości uzyskiwania obrazu. Pomimo ciągłych udoskonaleń instrumentów, na pewnym etapie pojawiły się fizyczne ograniczenia w zakresie mocy rozdzielczej. Potrzebne były dalsze prace.
Wprowadzenie reflektronu, elektrostatycznego zwierciadła jonowego w 1973 roku stanowiło istotny postęp w dziedzinie analizatorów TOF. Reflektrony zapewniały ogniskowanie czasowo-energetyczne i poprawiały zdolność rozdzielczą ponad dziesięciokrotnie. Aby jednak zwiększyć rozdzielczość powyżej 15 000, wysokość rur przelotowych analizatora musiała znacznie wzrosnąć.
Kolejna istotna poprawa rozdzielczości TOF pojawiła się wraz z wprowadzeniem reflektronów wieloodbiciowych. W zwierciadłach jonowych jony mogą być odbijane raz, dwa lub trzy razy przez siatki określające pola elektryczne, zanim dotrą do detektora, co znacznie wydłuża czas przelotu. Jednak siatki te powodują również znaczne straty jonów, ograniczając przydatność wielokrotnych odbić.
W 1989 roku wprowadzono płaskie zwierciadło elektrostatyczne bez siatki. Eliminacja siatek zminimalizowała straty jonów w wyniku odbić. Niestety, ten projekt nie rozwiązał problemu rozbieżności trajektorii jonów w płaszczyźnie Z, co nadal powodowało znaczne straty jonów i w praktyce nie stanowiło ulepszenia w porównaniu z poprzednimi konstrukcjami reflektronów.
W 2011 roku inżynierowie z LECO umieścili płaskie, bezsiatkowe lustro elektrostatyczne w układzie elektrostatycznych soczewek ogniskujących Einzel. Umożliwiło to ogniskowanie zarówno w płaszczyźnie Y, jak i płaszczyźnie Z, przy minimalizacji strat jonów. Technologia Folded Flight Path (FFP®) stanowiła istotny krok naprzód w spektrometrii mas TOF. Od tej pory z łatwością można było osiągnąć moc rozdzielczą na poziomie 25 000, przy niewielkich rozmiarach urządzenia. Dodatkowe odbicie w układzie FFP umożliwia kolejny przelot jonów, podwajając moc rozdzielczą do 50 000.
Technologia spektrometrii TOFMS o wysokiej rozdzielczości jest dostępna już od 10 lat, a więcej informacji o tym przełomowym rozwiązaniu można znaleźć w artykule przeglądowym.
